走査型電子顕微鏡（SEM）及び集束イオンビーム（FIB）の装置開発

募集背景

主にSEM事業、FIB事業の半導体及びライフサイエンス分野への事業拡大に伴い、人材募集を行う運びとなりました。
SEM/FIBは近年、あらゆる分野において需要が高まっており、将来の技術革新において、SEM/FIBは必要なツールです。柔軟で新しい発想のもとで開発できる人材を幅広く募集しております。
海外への事業拡大に伴い、海外現地とのコミュニケーションを取る機会もございますため、グローバルにご自身の活躍の幅を広げていただくことが可能です。英語に関しては翻訳ツールの使用や、社内の英語プログラム受講なども可能なため、ご安心ください。

部門ミッション/ビジョン

【ミッション】
　私たちは【創造と開発】を基本とし、常にユーザーのニーズに沿った製品を提供し、我々の測長技術、分析技術を通じて世界の産業界の発展に貢献することです。世界の研究者や技術者の研究を支援するソリューションの提供に尽力します。

【ビジョン】
　走査型電子顕微鏡及び集束イオンビームの分野で、最高の技術を提供し研究者を支え、技術革新を先導することを目指します。

職務内容

【職務概要】
走査型電子顕微鏡（SEM）及び、集束イオンビームの装置開発、それに伴う要素技術の確立をお任せします。
ニーズのヒアリング(顧客/学会での情報収集含む)、企画、仕様書作成、実験と一連の業務を担当いただきます。また、学会では弊社も社外に向けての発信を行っております。
本ポジションでは特定の顧客ニーズに応えるだけでなく、新しい最先端技術開発も行っており、近年ではAIなどの活用も含めた仕様検討など自由度高く実験出来る点がやりがいに感じていただけると思います。

【職務詳細】
　・顧客ニーズに合った装置の企画
　・新製品装置の開発
　・実験による新しい技術の確立
　・学会等での講演

＜変更の範囲＞将来的に会社の定める全ての業務に配置転換の可能性あり

【装置について】
■走査型電子顕微鏡（SEM）
表面観察・分析用の豊富なアタッチメントとともに、世界中の研究開発機関や品質検査の現場で、最も活躍する装置の1つです。当社は特殊な知識や技術がないどなたでも操作が可能な卓上走査電子顕微鏡をはじめとする汎用形走査電子顕微鏡 (W-SEM) から、ハイエンドの電界放出形走査電子顕微鏡 (FE-SEM) まで幅広くのラインナップを提案可能です。

■集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
イオンビームにより試料を観察しながら、高速かつ精密に加工します。自動加工による透過電子顕微鏡 (TEM) 試料の作成や、三次元解析が可能です。
走査電子顕微鏡 (SEM) を搭載した複合ビーム加工観察装置なら、検出器を取り付けることにより様々な分析が可能です。

ポジション特徴

①最先端技術とのふれあい
　国内/海外問わず学会等へ参加し、最先端技術の触れることができる
②発想の具現化
　学会などで研究者と直接話をする機会が多く、自分の発想を具現化して装置開発を進めることができ、実際に開発した装置を喜ばれると大きな満足感が得られます。
③常に最先端技術に触れることから、技術者としてのスキルを磨くことができます。

キャリアイメージ

※業務習熟度合いによってお任せする業務が異なりますので一例としてご覧ください。

【1年目】
　・既存装置操作や機能理解を習得
　・基本的な装置原理の理解度を深める
【2年目】
　・先輩社員の元、要素実験を行う
　・先輩社員指導の下、SEM/FIBのオプション開発
【3年目】
　・現在進行中のプロジェクトの補助役として、プロジェクトに参加
　　　（企画から、商品完成までの道筋の理解力向上）

採用要件

■必須条件　※以下いずれかを満たす方
　・理系専攻の大学卒業程度の知識を有すること
　・装置開発の経験をお持ちの方

■歓迎条件
　　走査型電子顕微鏡及び集束イオンビームの経験
　　日常会話程度の英会話