材料・部品・不具合品の各種測定・解析業務

MARUWAは1973年の創業から培ってきたセラミック材料技術を強みに電子部品や半導体関連製品、LED照明等の複数の領域での事業展開をしています。高熱伝導基板ではグローバルシェアトップクラスの製品を有し、独自の差別化製品戦略で高い収益性、業績を順調に伸ばしています。

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募集背景

当社製品の高性能化と品質向上には、微細構造と電気特性を精密に評価する分析技術が不可欠
です。FIB‑SEMによる断面観察、X線CTの非破壊内部評価、ミリ波帯高周波測定による誘電特性解析等は、開発力と歩留まり改善に直結する重要な基盤です。これらを総合的に扱い、材料および部品の構造・特性を統合して評価できる分析エンジニアを採用し、技術競争力と開発スピードをさらに強化します。

職務内容

FIB‑SEM・X線CT・高周波測定等で材料・構造・特性を評価し、結果をもとに課題抽出と改善提案を迅速に行う職務です。他部署と連携しながら分析依頼へスピード対応し、新規手法導入や測定条件最適化にも主体的に取り組んでいただきます。

・FIB‑SEM、X線CT、高周波測定などを用いて、材料および部品の構造・特性を分析・評価。
・分析結果の考察、課題抽出、改善提案の実施（迅速なフィードバック）
・技術レポート作成と、開発・製造部門へのタイムリーな情報展開
・他部署との調整・連携を通じた分析依頼の優先度判断とスピード対応
・新規分析手法の導入検討や測定条件最適化への積極的な取り組み

【この仕事の面白さ・魅力】

最先端の分析装置を使って、材料の“見えない世界”を解き明かす仕事です。自分の分析結果がそのまま製品改善や新技術につながるため、成果が目に見えて実感できます。開発・製造と近い距離で働くので、若いうちから技術者として成長できる環境です。新しい分析手法にも挑戦でき、技術を磨きながらキャリアを広げられます。

期待する役割

最先端の分析装置で材料の状態を正確に見える化し、得られたデータを考察・レポートとしてまとめて開発や製造へ迅速に共有し、課題解決と技術向上を前に進めていただきます。

応募資格（経験・資格など）

■必須
（いずれか1つ以上の経験があれば応募可能）
・SEM（走査電子顕微鏡）を用いた観察・評価の実務経験
・FIBやミリング加工による微細加工・断面作製の経験
・X線CTや高周波測定（ミリ波帯）等の分析装置を用いた評価経験
・分析業務でチームやプロジェクトを率いたマネジメント経験

■歓迎
・電子部品または積層構造部品の知識（MLCC、HTCC、半導体パッケージ、モジュール）
・セラミック材料の知識（誘電体材料、アルミナ、AlN）
・スパッタ膜やめっき膜、メタライズ材料の知識（Au、Cu、Ni）