仕事内容

配属先である総合研究所 材料・分析技術系は、当社自社製品の材料設計と分析評価技術を柱とする基盤技術研究部門です。

今回は分析チームにおいて表面分析業務をお任せいたします。分析する商材・材料は多岐にわたりますが、主に工業系材料（エレクトロニクス材料、包装材料）のXPS(X線光電子分光分析）、TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析）等表面分析および解析（社内の依頼元とやり取りし、適切な分析条件を設定し、考察を含めた報告書を作成）をご担当いただきます。
※以下、主力材料の事例
・エレクトロニクス領域：半導体、ディスプレイ関連等
・生活・産業領域：食品・機能性フイルム関連等
（今後、フロンティア領域/新事業の燃料電池やバイオ系も加わる予定）

■組織構成：
総合研究所内の基盤研究部門の一つが材料・分析技術系となっており、現在は38名で構成されています。うち16名（管理職2名含む）が分析チームです。更に、分析分野別に4つに分かれており、今回担当いただく表面分析チームは3名で構成されています。

■募集背景：
本部門の組織拡大を目指し、人員強化のため、募集しています。

■働き方：
・月平均残業時間：30時間以内
・リモートワーク：10日以下/月　※試用期間中は原則不可
・出張：ほとんどなし（分析機器が杉戸にあるため）
・副業可（規定有）

■キャリアパス：
入社後は先輩社員とともにXPS、TOF-SIMSを用いた表面分析及び解析業務に従事いただきます。ご本人の志向性、ご活躍に応じて、管理職昇格の可能性もございます。また、分析技術と並列して材料設計を担当しているチームもあり、将来的に社内のチャレンジ制度等を用いて、材料設計への挑戦も可能です。

応募要件

■必要条件：
・化学系専攻の大学卒以上
・分析機器（XPS、SEM、EDS等）を用いた表面分析の実務経験

※下記のような分析経験をお持ちの方は歓迎です。
・XPS（X線光電子分光分析）
・FIB（集束イオンビーム）
・TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析）
・XRD（X線回折）
・XAFS（X線吸収微細構造分析）
・CP/IM（イオンミリング）
・SEM（走査電子顕微鏡）
・TEM（透過電子顕微鏡）
・EDX/EDS（エネルギー分散型X線分析）